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小角中子散射仪
小角中子散射仪（Small Angle Neutron Scattering, SANS）位于中国散裂中子源南大厅的1#号位置，是国内首台基于脉冲中子源的小角散射仪。SANS @CSNS聚焦于通用性和可用性，采用短直束线设计使其能够在单次测量中覆盖较宽的散射矢量q范围，从而高效地获取样品在不同尺寸尺度上的结构演变信息。SANS @CSNS 基于飞行时间（Time-of-Flight, TOF）模式，通过位置灵敏的二维探测器精确测量中子散射强度I(q)随q（包含中子能量和散射角度信息）的分布和变化。主要用于定量研究纳米尺度（1~120 nm范围内）微结构的形状、尺寸分布、数密度及其动态演变信息。此外，为了满足不同研究场景的需要，SANS 配备了多种原位样品环境，包括高温和低温控制系统、磁场装置、拉伸设备、旋转样品架、原位流变仪、粒度分析仪以及同步热分析仪等。SANS还与用户合作开发了一系列实验方法学，包括掠入射小角散射、核磁散射分离、微流控原位实验以及原位电阻率测量等。这些功能使得 SANS 能够对样品在不同外部条件（如温度、应力、磁场等）下的静态纳米结构和动态演变过程进行深入研究。
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软凝聚态物质 ：复杂流体中的分子自组装与相互作用；聚合物溶液、凝胶、胶体和微乳液中的多层级结构；
硬凝聚态物质 ：金属合金中的相分离、晶粒生长与取向；纳米复合材料、陶瓷及多孔催化剂、地质材料体系的孔隙分布及界面信息；
磁性材料 ： 超导及磁性材料纳米畴 、铁磁流体、磁自旋图案及其结构与磁性域的关系；
生命科学：生物大分子、细胞膜及药物载体的微观结构、组分分布与动态响应能力研究。
柯于斌 研究员
keyb@ihep.ac.cn
杨华 副研究员
yanghua@ihep.ac.cn