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多功能反射仪
多功能反射谱仪(MR)采用时间分辨方法在探测器上记录反射中子，从而得到中子反射率R随动量转移矢量Qz的变化关系，通过分析中子反射率曲线就能够得到薄膜的厚度、界面粗糙度、以及散射长度密度的分布。当采用极化中子测量模式时，可以得到磁性沿垂直膜面方向的分布，同时还可以进行温度、磁场、电场等原位条件下表面及界面磁性的表征。
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以固体薄膜为主，兼顾软物质薄膜，其主要应用领域有：
（1）金属多层膜(主要应用于自旋电子学)的膜层结构及磁结构分析；
（2）氧化物/氮化物薄膜的结构及磁结构分析；
（3）超导及拓扑异质结构薄膜的结构分析；
（4）功能高分子薄膜的膜层结构分析；聚合物固液或固气界面结构分析。
朱涛 研究员
tzhu@iphy.ac.cn or tzhu@ihep.ac.cn